Kính hiển vi đo lường lấy nét tự động kèm đầu dò Metrology IMI-AF200P
- Mã sản phẩm:Metrology IMI-AF200P
- Tình trạng:Còn Hàng
Giới thiệu sản phẩm:
| Danh mục | Thiết bị kiểm tra không phá hủy - NDT > Kính hiển vi - Microscope |
| Thương hiệu | Metrology |
| Model | IMI-AF200P |
| Tags |
Thông số kỹ thuật:
| Dải đo (XYZ) | 200 x 100 x 150 mm |
| Độ phân giải (XYZ) | 0.001 mm/0.00005" |
| Độ chính xác | ±(3+L/200)µm (Trục X, Y) |
| Cáu tạo máy chính | Bàn đo trục XY bằng đá granit theo chuẩn DIN 00 và trục Z bằng đá granit |
| Hệ thống truyền dẫn | Bàn trượt bi tuyến tính chéo 3 trục và truyền động trục vít không răng |
| Hệ thống điện tử | Hệ thống điều khiển và điều khiển tốc độ động cơ servo AC trục Z |
| Hệ thống hình ảnh | Camera màu CCD 1/3", 0.41M pixels, độ phân giải cao |
| Độ phóng đại hình ảnh | 25X - 250X |
| Hệ thống lấy nét | Mô tơ điện trục Z và phần mềm tự động lấy nét |
| Hệ thống quang học | Ống kính quang học, zoom liên tục với độ méo thấp, 0.7-4.SX |
| Hệ thống chiếu sáng | Đèn LED có thể điều chỉnh độ sáng cao và truyền ánh sáng song song |
| Hệ thống đầu dò | Đầu dò kích hoạt cảm ứng MCP, dưỡng đo trụ và đầu đo bằng ruby của Reinshaw (UK) |
| Hệ thống máy tính | Máy tính với màn hình LCD màu 21.5", bàn phím, chuột |
| Phần mềm | Hệ thống đo lường 2.5D/3D và đầu dò đồng trục Jingstone Metrology |
| Xuất dữ liệu | Word, Excel, TXT, DXF, SPC |
| Phụ kiện tiêu chuẩn | Tấm hiệu chuẩn, phần mềm đo lường, khóa điện tử, hướng dẫn sử dụng |
| Phụ kiện tùy chọn | Bàn đo thép với màn hình OA |
