Giới thiệu sản phẩm:

Thông số kỹ thuật:

- Cải thiện hiệu suất: AXIS Supra+ được định nghĩa hoàn toàn khác biệt với bất kỳ máy quang phổ nào khác nhờ điều khiển máy tính tự động hóa hoàn toàn cho quá trình  xử lý mẫu và cài đặt các thông số thiết bị. Chuyển giao và trao đổi mẫu không cần người giám sát trong quá trình phân tích đạt được thông qua sự phối hợp của khay mẫu Flexi-Lock và buồng phân tích mẫu xếp tự động.
- XPS diện tích lớn, độ nhạy cao: AXIS Supra+ được tối ưu hóa cho phổ quang điện tử tia X phân tích trạng thái hóa học. Thu thập hiệu quả các quang điện tử kết hợp với quang học điện tử truyền qua cao đảm bảo độ nhạy và độ phân giải vô song tại các diện tích phân tích lớn. Cũng như chế độ thu nhận quét thông thường, quang phổ có thể được thu nhận ở chế độ chụp nhanh, chưa từng quét trước đó trong chưa đầy một giây bằng cách sử dụng Bộ dò dòng trễ 128 kênh (DLD).
- Độ phân giải năng lượng cao: Yêu cầu cơ bản của bất kỳ máy quang phổ nào là độ phân giải năng lượng tốt nhất có thể. Độ phân giải năng lượng cao của máy quang phổ không những góp phần mở rộng các đỉnh quang hóa mà còn rất quan trọng để đo chính xác các dịch chuyển hóa học nhỏ. AXIS Supra+ có nguồn phát tia-X loại Al Kα đơn sắc vòng Rowland 500mm và các bộ quang học điện tử được tối ưu hóa đảm bảo độ phân giải hóa học tuyệt vời.
- Hình ảnh song song nhanh: Sự phân bố của các nguyên tố hoặc hóa học ở bề mặt được đo bằng hình ảnh XPS. AXIS Supra+ thu hình ảnh song song có độ phân giải không gian cao với tốc độ nhanh. Thu nhận hình ảnh song song có ưu điểm là nhanh hơn đáng kể và đạt được độ phân giải không gian cao hơn so với phương pháp chùm tia dạng mành thông thường. Hình ảnh song song cũng có thể được kết hợp với các chuyển động của bàn mẫu để thu được hình ảnh "ghép", có khả năng tạo ra hình ảnh trên vài milimet với độ phân giải không gian vài micron.
- Phần mềm ESCApe đa năng để mua và xử lý. ESCApe đã được phát triển để làm cho tương tác của người dùng với máy quang phổ càng đơn giản càng tốt, tích hợp thu nhận và xử lý để khai thác triệt để tự động hóa phần cứng.
- Tự động hóa thiết bị vô song: AXIS Supra+ hoàn toàn tự động hóa việc xử lý mẫu, điều này làm cho nó khác biệt với bất kỳ máy quang phổ nào khác. Trao đổi mẫu tự động sau khi kết thúc một thử nghiệm cho phép máy hoạt động liên tục. Các mức độ tự động hóa chưa từng có mở rộng đến cả các khía cạnh bảo trì thường xuyên như nung và tuần tự xả khí dây tóc được điều khiển bằng máy tính.
- Thông lượng mẫu cao: Để đảm bảo thông lượng mẫu cao, tối đa 3 giá đỡ mẫu có thể đặt trên khay mẫu Flexi-lock. Chọn mẫu phân tích tiếp theo từ các bộ giữ mẫu có thể được thêm vào hàng đợi phân tích bằng hệ thống xử lý mẫu tự động sẽ tự động thay đổi mẫu để đưa mẫu được chọn vào hàng đợi phân tích.

- AXIS Supra+ có thể được cấu hình với:
+ Nguồn ion monatomic Minibeam 4, thông lượng cao Ar+
+ Nguồn ion Minibeam 6 là nguồn ion đa chế độ có thể hoạt động ở chế độ cụm Arn+ và chế độ ion monatomic Ar+/He+
+ Nguồn tia X đơn sắc đôi Al Kα /Ag Lα (2984,2 eV).
- Các kỹ thuật bổ sung có thể được thêm vào AXIS Supra+ trùng khớp với vị trí phân tích XPS mang lại cái nhìn sâu và toàn diện về mẫu. Điều quan trọng, việc bổ sung các kỹ thuật này không làm ảnh hưởng đến hiệu suất XPS hàng đầu thị trường. Các nguồn kích thích tùy chọn bao gồm:
+ Nguồn tia X Al/Mg tiêu sắc
+ Đèn phóng Helium mới được cải tiến cho Quang phổ phát xạ quang điện tử ngoại (Ultraviolet Photoemission Spectroscopy-UPS)
+ Nguồn tia X đơn sắc AgLα năng lượng cao.
+ Nguồn điện tử phát xạ trường cho Quang phổ điện tử Auger (Auger Electron Spectroscopy-AES), Ánh xạ Auger quét (Scanning Auger Mapping-SAM) và Quang phổ điện tử thứ cấp (Secondary Eelectron Mmicroscopy-SEM)
+ Quang phổ phát xạ quang điện tử ngược (Inverse photoemission spectroscopy-IPES)
- Trạm khoa học bề mặt (SSS) là một buồng chuyên dụng giao tiếp trực tiếp với buồng phân tích mẫu và được thiết kế để chứa một số kỹ thuật đặc trưng bề mặt tùy chọn bao gồm quang phổ khối ion thứ cấp tứ cực (Quadrupole secondary ion mass spectrometry-SIMS), nhiễu xạ điện tử năng lượng thấp (Low energy electron diffraction-LEED) hoặc quang phổ điện tử phát xạ quang điện nghịch đảo (Inverse photoemission electron spectroscopy-IPES).

Đánh giá & bình luận: